DAシンポジウム2014

2014年8月28〜29日に下呂で開催されたDAシンポジウム2014においてD2の粟野が集積回路の長期信頼性に関する発表を行いました(発表日は8月28日).

半導体製造プロセスの微細化に伴い,集積回路の劣化故障が問題視されています.特に負バイアス温度不安定性(NBTI)と呼ばれる,トランジスタのスイッチング速度が低下していく現象が注目を集めています.一方で,微細なトランジスタでは特性が大きくばらつくため,NBTIのような劣化についてもばらつきを持った統計量として取り扱う必要があります.ばらつきのモデル化には大量の測定データが必要となるため,我々はNBTIを効率的に測定する回路を考案・チップ試作による検証を行って来ました.本発表では,測定可能なトランジスタ数を,従来の100個程度から数千個程度まで大規模化するとともに,4k個のトランジスタで測定された劣化ばらつきについて報告しました.その結果,劣化ばらつきはチャネル面積の逆数に比例して増大することが明らかとなり,微細化の進行とともに劣化ばらつきが急速に増大することが示唆されました.

  • 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史:
    “3996トランジスタにおけるNBTI劣化の統計的ばらつき”, 情報処理学会DAシンポジウム2014 (於 岐阜県下呂市 ホテル下呂温泉水明館), pp.3-8, 2014年8月.
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SLDM研究会 優秀発表学生賞 受賞

DAシンポジウム2014にて,D2の粟野が「DAシンポジウム2013 優秀発表学生賞」を,M2の佐川が「第166回システムとLSIの設計技術研究会 優秀発表学生賞」をそれぞれ受賞しました.

  • 粟野 皓光, 佐藤 高史:
    “トランジスタアレイを用いたBTI劣化の統計的観測”, 情報処理学会DAシンポジウム2013 (於 岐阜県下呂市 ホテル下呂温泉水明館), pp.85-90, 2013年8月.
  • 佐川 善彦, 廣本 正之, 佐藤 高史, 越智 裕之:
    “低電圧起動回路を用いた省電力チップ間非接触通信回路”, 情報処理学会研究報告 (於 北九州国際会議場), Vol.2014-SLDM-166, No.10, pp.1-6, 2014年5月.
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英文論文誌 IEICE Transactions on Information and Systemsへの論文掲載

以下の論文が電子情報通信学会 英文論文誌 IEICE Transactions on Information and Systemsへ掲載されました.
IDDQテストはチップが動作していない状態での漏れ電流を測定することにより,製造後のチップに故障が含まれているかを判定するテスト手法です.近年の特性ばらつきの増大によって,漏れ電流が大きいことの原因がばらつきによるものか,チップ内に存在する漏れ電流を増やす故障によるものかの区別が難しくなっています.本論文は,この課題を解決しています.提案手法では,まず,チップ毎の特性ばらつき推定を行います.続いて,特性ばらつき推定結果から期待される漏れ電流電流の範囲を計算します.この計算結果をもとに故障の有無を判定する基準をチップ毎に設定することにより,良品と不良品を高精度に判定できるようになります.これにより,回路の信頼性を一層向上できます.

  • Michihiro Shintani and Takashi Sato, “IDDQ Outlier Screening through Two-phase Approach: Clustering-based Filtering and Estimation-based Current-threshold Determination,” IEICE Transactions on Information and Systems, Vol.E97-D, No.8, pp.2095-2104.
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京都大学オープンキャンパス2014 工学部・電気電子工学科

2014年8月8日(金)に京都大学オープンキャンパス2014が開催されました.私たちが所属する工学部電気電子工学科では,大学での実験を実際に体験できる「学生実験体験」を行っています.今回は論理回路をテーマとし,論理ICを用いた回路の設計・組立やオシロスコープでの波形観察などに取り組んでもらいました.本研究室からは廣本助教が企画・運営に携わりました.

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IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciencesへの論文採録決定

IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences への以下の論文の採録が決定しました.

  • Hirofumi Shimizu, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato:
    “Automation of Model Parameter Estimation for Random Telegraph Noise,” IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Dec. 2014 (to appear).
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第27回 回路とシステムワークショップ@淡路島夢舞台国際会議場

2014年8月4日~5日に淡路島で開催された第27回 回路とシステムワークショップにて,本研究室卒業生の木村氏およびM2の曹(Cao)が発表を行いました.

木村氏の発表は,回路特性のばらつきを考慮したシミュレーション手法に関するものです.半導体プロセスの微細化により今後ますます,回路の特性ばらつきによる動作不良が問題となります.この論文では,回路の歩留まりを高速に解析する手法を提案しています.本手法は回路の設計マージンに着目し,最急降下法を用いることで設計パラメタ空間における不良領域を効率良く探索することができます.微細プロセスにおける高信頼回路設計への応用が期待されます.

曹の発表は,印刷可能な薄型センサを用いたバイタルセンシングに関するものです.ユーザへの負担の少ないバイタルセンシング技術は近年大いに注目されている技術の一つであり,フレキシブルな薄型センサデバイスは様々な応用が期待されます.本研究では,非常に薄い形状をした櫛形電極静電容量センサを用い,指先で触れるだけで心拍数の計測を行うことに成功しました.また本論文では,計測精度を向上するためのセンサ構造の最適化方法についても提案しています.提案手法により実際に試作したセンサの感度を向上させることができました.

  • 木村 和紀, 廣本 正之, 佐藤 高史:
    “高次元回路歩留まり解析高速化のための最急降下法を用いた不良領域探索”, 第27回 回路とシステムワークショップ (於 淡路夢舞台国際会議場), pp.229-234, 2014年8月.
  • Xiaolun Cao, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato:
    “An Experimental Study on Interdigital Capacitance Sensor for Detecting Heart Rate,” 第27回 回路とシステムワークショップ (於 淡路夢舞台国際会議場), pp.138-143, Aug. 2014.
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第26回 回路とシステムワークショップ 奨励賞 受賞

第27回 回路とシステムワークショップにて卒業生の藤田氏が前回の同ワークショップでの以下の発表に関して『第26回 回路とシステムワークショップ 奨励賞』を受賞しました.

  • 藤田 隆史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史:
    “画像の圧縮センシングにおける画像内圧縮率の適応的変更手法”, 第26回 回路とシステムワークショップ (於 淡路夢舞台国際会議場), pp.397-402, 2013年7月.
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Yiyu Shi先生,Andy,Yu-Guang Chenさん歓迎会

平成26年7月15日(木) 19時〜、天寅にて、学術振興会外国人招へい研究者として来訪中のYiyu Shi先生(米国ミズーリ工科大学)と特別研究学生として来訪中のAndy,Yu-Guang Chenさん(台湾国立清華大学)の歓迎会を行いました。Yiyu Shi先生、Andy,Yu-Guang Chenさんはいずれも約2か月間の予定で研究室に滞在しており、佐藤研の学生と共同研究を行っています。

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京都教育大附属高校 研究室見学会

7/12(土)に、高大連携取り組みの一環として、京都教育大附属高校の学生が本研究室の見学に訪れました。LSIに関する本研究室の研究紹介に加え、プログラミングにより ラジコンヘリコプターを自動飛行させる課題にも実際に取り組んでもらいました。高校生の皆さんにはとても興味を持って積極的に取り組んでもらうことがで き、組込み機器を制御することの難しさと楽しさを実感してもらえました。

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ITC-CSCC2013ベストペーパー受賞

昨年度発表した以下の論文が、ITC-CSCC2013のベストペーパーに選ばれました。

Shinya Matsuda, Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Takashi Sato, Yukihiro Nakamura, and Hiroyuki Ochi, “Architecture for Sealed Wafer-Scale Mask ROM for Long-Term Digital Data Preservation,” The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) (Yeosu, Korea), pp.274-277, June 2013.

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