DATE 2013

2013年3月18日~22日にフランスのグルノーブルで開催された Design, Automation & Test in Europe (DATE) 2013 にて,本研究室の今川君と2009年度まで本研究室に在籍していたラコシ君が研究成果の発表を行いました (発表日は両名とも3月20日).

ラコシ君の発表は,大規模集積回路(LSI)の長期的な信頼性を確保することを目的とし,粗粒度再構成可能アーキテクチャ(CGRA)に演算要素(PE)の予防的な自己診断および交換(Hot Swap)を行う機能を持たせたアーキテクチャを提案するものです.本研究室で試作したプロトタイプのLSIチップを用いてその有効性を実証しています.

今川君の発表は,航空宇宙など放射線に対する耐性が要求される分野への再構成可能アーキテクチャの応用に向け,CGRAに選択的多重化を適用するための基礎となる技術を提案するものです.ソフトエラーに対して脆弱な部分を特定するために従来必要であった膨大なシミュレーションを不要としました.

  • Zoltán Endre Rákossy, Masayuki Hiromoto, Hiroshi Tsutsui, Takashi Sato, Yukihiro Nakamura, and Hiroyuki Ochi: “Hot-Swapping Architecture with Back-Biased Testing for Mitigation of Permanent Faults in Functional Unit Array,” Design, Automation & Test in Europe (DATE) (Grenoble, France), Mar. 2013.
  • Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “A Cost-Effective Selective TMR for Heterogeneous Coarse-Grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-Level Vulnerability Analysis,” Design, Automation & Test in Europe (DATE) (Grenoble, France), Mar. 2013.
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2013年 電子情報通信学会 総合大会

2013年3月19~22日に岐阜大学で開催された電子情報通信学会総合大会にて,岡崎君, 張君, 藤田君が研究成果の発表を行いました (発表日は3名とも3月19日).

  • 岡崎剛, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史, “ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討,” 電子情報通信学会総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集, A-3-1, p.61, 2013年3月.
  • Shiyi Zhang, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “Evaluation of Dependent Node Selection of Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis,” Proceedings of the 2013 IEICE general conference (Gifu University) Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences, A-3-2, p.62, March 2013.
  • 藤田隆史, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史, “回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較,” 電子情報通信学会総合大会 (於岐阜大学) エレクトロニクス講演論文集2, C-12-7, p.78, 2013年3月.

岡崎君の発表は,回路の電源網を,乱数を用いるランダムウォークにより効率的に解析するための研究についてです.並列計算における同期処理を工夫することで,スーパーコンピュータ等を用いる高速な回路解析の実現が期待されます.

張君の発表は,ディジタル回路の統計的静的タイミングをヒストグラム伝搬により計算する際に問題となる,分岐再収斂経路の近似的な解法に関するものです.製造された回路のタイミング分布を正確に求めることが出来るようになり,歩留まりの向上に役立ちます.

藤田君の発表は、ディジタル回路の基本構成要素であるフリップフロップを低消費電力・低エネルギー化するためにはどのような構造とすれば良いかを検討したものです.充電なしでより長時間動作する携帯機器等の進展に役立ちます.

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ISQED 2013

2013年3月4日~6日に米国カリフォルニア州サンタクララ市で開催された International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2013 にて,本研究室の今川と粟野が研究成果の発表を行いました (発表日は両名とも3月6日).

今川の発表は,粗粒度再構成可能アーキテクチャ(CGRA)上に実装するアプリケーション回路中の,ソフトエラーに対して脆弱な領域を高速に特定する技術の解析評価に関するものです.本研究により,放射線に強い回路を構成出来るため,航空宇宙や自動車等の特に信頼性が必要とされる分野に,高性能な先端プロセスが応用できるようになります.

粟野の発表は,微細なトランジスタの信頼性を左右するランダムテレグラフノイズと呼ばれる雑音の解析に統計的機械学習を応用する研究についてです.ランダムテレグラフノイズの統計的性質の解明に役立つとともに,トランジスタモデルの精度を高めることが出来るため,回路性能の一層の向上に役立ちます.

  • Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “High-Speed DFG-Level SEU Vulnerability Analysis for Applying Selective TMR to Resource-Constrained CGRA,” International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED) (Santa Clara, CA), March 2013.
  • Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “Multi-Trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference,” International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED) (Santa Clara,CA), March 2013.

また,学会会場への移動の途中では UC Berkeley や Computer History Museum 等を見学して,刺激の多い有意義な時間を過ごすことができました.

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環境電磁工学研究会 (EMCJ)

2013年3月8日に機械振興会館で開催された環境電磁工学研究会にて,M2の森下君が研究成果の発表を行いました.

集積回路を搭載したシステムの電源網インピーダンスをコンパクトに表現するモデルを作成することにより,電源電圧シミュレーションを効率化する研究です.電子機器の安定動作と信頼性向上に役立つことが期待されます.

  • 森下拓海, 日高青路, 山長功, 佐藤高史, “空間周波数領域インピーダンス行列を用いたマルチポートLSIモデルの検討,” 電子情報通信学会技術研究報告 (於 機械振興会館), vol. 112, no. 468, EMCJ2012-131, pp. 79-84, 2013年3月.
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VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 授賞式

2013年3月4日(月),沖縄県青年会館で開催された VLD 研究会にてVLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC の授賞式が行われ,博士課程学生の新谷氏が表彰されました.本賞は,国際会議 ASP-DAC (採択率 31.2%) に採録された論文のうち、特に優れた論文を執筆した学生に贈られるものです.

受賞対象論文は以下の通り.

  • Michihiro Shintani and Takashi Sato, “An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation,” ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) (Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan), Jan. 2013, pp.614-619.

同研究会において,3月5日(火)に受賞記念講演も行われました.

  • [記念講演] Michihiro Shintani and Takashi Sato, “An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on BayesianProcess Parameter Estimation,” 電子情報通信学会技術研究報告(於 沖縄県青年会館), vol. 112, no. 451, VLD2012-152, p. 91, 2013年3月.
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VLSI設計技術研究会 (VLD)

沖縄県青年会館で開催されたVLD研究会にて,博士課程学生の新谷氏が研究成果の発表を行いました.

IDDQ法では,製造されたチップが故障を含むかどうかを回路の漏れ電流の大小により判定します.この際の判定基準として用いるしきい値電流の計算時間を,高速化しようとする研究です.本研究により,回路およびシステムの故障検出をより短時間で行うことができるようになり,信頼性向上が期待できます.

  • 新谷道広, 佐藤高史, “パラメータ推定に基づくIDDQ 電流しきい値決定のオンラインテストに向けた高速化,” 電子情報通信学会技術研究報告 (於 沖縄県青年会館), vol. 112, no. 451, VLD2012-137, pp. 7-12, 2013年3月.
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3回生(研究室配属対象者)向け研究室見学会 2日目

研究室配属対象者向けの研究室見学会を開催しました.見学は随時受け付けます.
contact(at)easter.kuee.kyoto-u.ac.jp までご連絡下さい.

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3回生(研究室配属対象者)向け研究室見学会 1日目

研究室配属対象者向けの研究室見学会を開催しました.明日も開催します.詳細は http://www.pass.cce.i.kyoto-u.ac.jp/?page_id=1428 を参照ください.

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GLSVLSI2013採択決定

以下の論文に関して GLSVLSI2013 (5月)での採択が決定しました.

  • Takumi Morishita, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato, “Fast and Memory-Efficient GPU Implementations of Krylov Subspace Methods for Efficient Power Grid Analysis,” Proc. of GLSVLSI (Paris, France), May. 2013 (to appear).
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第9回(2012年)IEEE関西支部学生研究奨励賞

2013年2月12日(火),2013年IEEE 関西支部総会にてIEEE関西支部 学生研究奨励賞授賞式が行われ,卒業生の片山 健太朗氏とM2の川島君が表彰されました(受賞者の決定は2012年12月20日).受賞対象論文(国際会議発表)は以下の通り.

  • Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “A Design Strategy for Sub-Threshold Circuits Considering Energy-Minimization and Yield-Maximization,” in Proc. of IEEE International SOC Conference (SOCC) (Taipei, Taiwan), pp.57-62, Sep. 2011.
  • Kentaro Katayama, Shiho Hagiwara, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, andTakashi Sato, “Sequential Importance Sampling for Low-Probability and High-Dimensional SRAM Yield Analysis,” in Proc. of ACM/IEEE International Conference on Computer-aided Design (ICCAD) (San Jose,CA), pp.703-708, Nov. 2010.
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