2018年12月5日～7日にサテライトキャンパスひろしまで開催された電子情報通信学会デザインガイア2018において本研究室の大島が研究発表を行いました（発表日は12月7日）．
大島の発表は，レプリカセンサを用いたNBTIによる回路特性変動予測についてです．NBTIは回路の信号伝搬遅延時間を増加させるトランジスタの主要な劣化現象の1つで，遅延劣化の推定が課題となっています．トランジスタの劣化は入力信号のオン時間割合（デューティー比）に依存するため，デューティー比を考慮でき，かつ省面積，高感度な遅延劣化推定手法が求められています．本研究では，劣化の激しいトランジスタに対象を絞り，NBTIによるしきい値電圧変動を推定する手法を提案しました．回路シミュレーションにより，トランジスタのしきい値電圧変動推定を僅かな誤差で行えること，ベンチマーク回路の遅延劣化に対する出力変化率が最大27.8%と高い感度が得られることを確認しました．
- 大島 國弘，辺 松，廣本 正之，佐藤 高史:
”レプリカセンサを用いたNBTIによる回路特製変動予測に関する検討, ” 電子情報通信学会技術研究報告（デザインガイア2018-VLSI設計の新しい大地-）（於 サテライトキャンパスひろしま）, Vol.118, No.334, VLD2018-67, pp.195-200, 2018年12月．
