2018年1月22日~25日に大韓民国済州島で開催されたAsia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) 2018にてM2の森田が研究発表を行いました(発表日は1月25日).
森田の発表は,集積回路の経年劣化に関するものです.集積回路の劣化度合いは回路に与えられる負荷によって異なっており,最悪の場合の劣化度合いとその際の負荷を予測するのは困難です.本発表では,稀な事象が起こる確率を効率的に求めることができるサブセットシミュレーションと呼ばれる手法を適用することで,劣化が最悪となるような負荷とその発生確率を計算します.ベンチマーク回路を用いた評価実験から,提案手法が既存手法と比べて最大36倍高速化できることを示しました.
- Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato:
“Efficient Exploration of Worst Case Workload and Timing Degradation under NBTI,” Proc. of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) (Jeju Island, Korea), pp.631-636, Jan. 2018.