Integration, the VLSI Journal

JSPS外国人特別研究者として来訪していたカリフォルニア大学リバーサイド校Sheldon Tan教授との共同研究について、Integration, the VLSI Journal への論文採録が決まりました。

  • Chase Cook, Hengyang Zhao, Takashi Sato, Masayuki Hiromoto, and Sheldon Tan, “GPU-based Ising computing for solving max-cut combinatorial optimization problems,” Integration, the VLSI Journal, (accepted for publication).
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FLEPS2019

2019年7月7日~9日に英国glasgow市で開催されたIEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS) 2019 にて,M2のQinが研究発表を行いました (発表日は9日).

Qinの発表は有機トランジスタを用いたPUF回路の設計に関するものです。PUF回路はデバイス製造時に生じるばらつきを利用して認証を実現する回路です。フレキシブルな基板の上に低コストで製造できる有機トランジスタの優れた特長を利用して、日常製品を認証できる複製困難なタグの実現を目指しています。本発表では、有機デバイスの劣化を補償できるカレントミラーアレイPUF回路を提案しました。この回路は、トランジスタの経時劣化をカレントミラーの共有ゲート電圧によって自己補償することができます。提案回路を1ヶ月間にわたって測定することにより、PUFの評価指標であるランダム性、拡散性、再現性を評価し、提案回路がデバイス劣化による応答変化に対して高い耐性を示すことを確認しました。

  • Zhaoxing Qin, Michihiro Shintani, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato, “OCM-PUF: Organic current mirror PUF with enhanced resilience to device degradation,” in Proc. IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS), P-47 , July 2019.
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ICSCRM2019採択決定

以下の論文が,2019年9月29〜10月4日に開催予定の国際会議International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019に,oral presentationとして採択されることが決まりました.

  • Michihiro Shintani, Kazuki Oishi, and Takashi Sato, “A three-level active gate drive circuit for power MOSFETs utilizing a generic gate driver IC,” in Proc. International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM), (to appear)
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SSDM2019採択決定

以下の論文が,2019年9月2〜5日に開催予定の国際会議 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) に, oral presentationとして採択されることが決まりました.

  • Kunihiro Oshima, Michiaki Saito, Michihiro Shintani, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato, “Experimental study of bias stress degradation of organic thin film transistors,” in Proc. International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), (Nagoya, Japan) Sep. 2019. (to appear)
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2019年度電気系野球大会

6月10日(月),京都御所グラウンドにて2019年度電気系野球大会の1回戦が行われました.佐藤高史研究室は石井・松田研合同チームと対戦しましたが,健闘虚しく4-8で敗退しました.来年はぜひとも勝利をおさめるべく,練習に励みます.

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短期交流学生

短期交流学生として一緒に研究を進めていた、シンガポール南洋理工大学の博士課程学生、月さんが帰国されました。京大滞在中の研究について、研究室の学生・教員と今後も共同研究を進めることとなっています。

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DAC2019

2019年6月2日~6月6日に米国ネバダ州ラスベガス市で開催されたThe 56th ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) 2019 にて本研究室の辺が研究発表を行いました (発表日は6月5日).本会議は,集積回路設計におけるトップ会議であり,今年も世界中から多数の参加者がありました.

辺の発表は,量子安全暗号(Post-Quantum Cryptography, PQC)のハードウェア実装に関するものです.アメリカ国立標準技術研究所は2016年からPQCの標準化に向けて暗号システムの設計を呼びかけ,Learning with Errors (LWE)問題に基づく鍵交換方式であるFrodoと,LWE問題の亜種であるRing LWE (RLWE)に基づくNewHopeが,安全性と効率面で優れた有力な標準候補となっています.FrodoとNewhopeに対しては,これまでにCPUやFPGAによる実装が複数提案されていますが,ASICによる設計がないことから効率の良いLWE鍵交換に向けたASIC乗算器の設計を提案しました.LWEはセキュリティが高く,一方RLWEは圧倒的にエネルギ効率が高いことが認識されていましたが,提案のASIC乗算器を用いれば,LWEもRLWEと同等のエネルギ効率が実現できることを示しました.これによりLWEはPQC候補としてさらなる可能性を持つことが分かりました.

  • Song Bian, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato, “Filianore: Better multiplier architectures for LWE-based post-quantum key exchange,” in Proc. ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), pp.52.4:1-52.4:6, June 2019.
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Chip Hong Chang先生講演会

2019年5月24日(金)に、シンガポール南洋理工大学のChip Hong Chang先生に、IoT時代に向けたセキュリティ回路に関する講演会をしていただきました。PUFと呼ばれるセキュリティ回路について、基礎から応用までわかりやすく講義いただきました。

Title: Physical Unclonable Functions for IoT Security
Speaker: Chip Hong Chang (Nanyang Technological University, Singapore)

Abstract:

Physical Unclonable Function (PUF) is a burgeoning security primitive for lightweight device identification and authentication due to its radically different way of interrogating hardware without the permanent presence of a secret key. The security of PUF rests in the intrinsic complexity and irreproducibility of a random physical disorder system instead of a hard-to-solve mathematical problem. Device signature generated by PUF cannot be physically replicated even by the original manufacturer due to the uncontrollable nature of manufacturing process variations. As the secret information can only be generated when the PUF is powered on, active manipulation of circuit structure will cause dysfunction of its challenge-response mechanism and become tamper evident. As unique and unclonable chip identifiers, PUFs find its niche in active hardware metering, which enables chip designers to lock and unlock the circuit functionality to gain post-fabrication control of their intellectual property and clone detection. Besides, rich variety of post-CMOS technologies, such as Phase Change Memory and Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory, offer new challenges and opportunities to PUF system design. Last but not least, sensors and artificial intelligence are integral parts of an IoT ecosystem for life-changing applications. Integration of PUF credentials into sensor or machine learning circuits without compromising their original operations holds strong promises in addressing digital forensic and security problems in IoT.

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BBQ2019

2019年5月18日(土)に桂川河川敷にてバーベキューを行いました.研究室の皆で美味しいお肉に舌鼓を打ちながら楽しい時間を過ごしました.OBも含めた研究室メンバーの親睦を深め,これからの研究に向けて鋭気を養うことができました.

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2019年5月VLD研究会

2019年5月15日に東京工業大学で開催された電子情報通信学会VLSI設計技術研究会(VLD)にて,M2の党が発表を行いました.

組合せ最適化問題の近似解を効率的に求める手法としてイジングモデルを用いる解法が近年注目を集めており,特に,レプリカ交換法を応用したイジングモデルソルバは,高精度の解を高速に得られることが知られています.本発表では,レプリカ交換イジングモデルソルバにおいて,最適解をより高い確率で求めることができるレプリカトポロジーとレプリカ温度を,最大カット問題を例に評価しました.直線型トポロジー及びエネルギー分布の重なり面積を利用した提案レプリカ温度割当方法によって,既存のレプリカ温度割当方法と比較して最適解を得る確率を最大で9.6%向上できることを確認しました.

  • 党 璋, 佐藤 高史: “レプリカ交換イジングモデルソルバにおけるレプリカトポロジーと温度割当方法に関する検討”, 電子情報通信学会技術研究報告(VLSI設計技術研究会)(於 東京工業大学 大岡山キャンパス), Vol.119, No.25, VLD2019-1, pp.7-12, 2019年5月.
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