平成25年度大学院学位授与式

投稿日: 2014年03月25日 作成者: hiromoto

大学院学位授与式(＠京都市勧業館みやこめっせ)があり，恒例の記念撮影(＠赤煉瓦玄関前)を行いました．

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アジア情報学セミナー2014

投稿日: 2014年03月21日 作成者: ts

3月19日に台湾国立成功大学にて開催されたアジア情報学セミナーにて，本研究室の佐藤が講演をしてきました．分野をまたがった先生・学生との交流や議論ができ，たいへん有意義でした．

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研究室歓送会 2014

投稿日: 2014年03月14日 作成者: hiromoto

平成26年3月12日(水)18時30分～，京都ロイヤルホテルにて歓送会を行いました．

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ISQED2014

投稿日: 2014年03月09日 作成者: ts

2014年3月4日～5日に米国カリフォルニア州サンタクララ市で開催された International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2014 にて，本研究室の佐藤が研究成果の発表を行いました (発表日は3月4日)．また，3月6日には同じ会場で開催されたSensorsCon2014に参加しました．集積回路のデザイン品質の評価，およびセンサデザインの最新動向等について有意義な情報交換と情報収集が行えました。

本論文では，我々の研究室で提案している集積回路の低電圧動作限界を予測する手法が実際に正しいことを，チップ試作とその測定により確認した結果について述べています．携帯機器やセンサネットワーク等で必要となる超低電力動作の実現に貢献する研究です．

Takashi Sato, Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, and Hiroyuki Ochi, “Experimental validation of minimum operating voltage estimation for low supply voltage circuits,” in Proc. International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), pp. 428-433, March 2014. (Santa Clara, CA)

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2013年度 歓送会案内

投稿日: 2014年03月07日 作成者: hiromoto

平成26年3月12日(水)18時30分から京都ロイヤルホテルにて歓送会を開催予定です．現教員・学生はもちろん中村行宏名誉教授も参加されます．当研究室卒業生やゆかりのある方で参加可能な方は是非お問い合わせ下さい．

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EMC’14/Tokyo採択決定

投稿日: 2014年03月07日 作成者: ts

以下の論文のEMC’14/Tokyo(2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility)での発表が決定しています．

Koh Yamanaga, Hidetoshi Yamamoto, and Takashi Sato, “A low cost capacitor approach for suppressing resonance in power distribution networks,” International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo (EMC Tokyo), accepted for presentation, 2014. (Tokyo, Japan)

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IEEE Transactions on Device and Materials Reliabilityへの論文採録決定

投稿日: 2014年03月03日 作成者: ts

以下の論文のIEEE Transactions on on Device and Materials Reliability への採録が決定しました。

Ketul Sutaria, Amar, Chris Kim, Takashi Sato, and Yu Cao, “Aging statistics based on trapping/detrapping: compact modeling and silicon validation,” to appear in IEEE Transactions on  Device and Materials Reliability.

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第26回 回路とシステムワークショップ 奨励賞 受賞

投稿日: 2014年02月18日 作成者: ts

本研究室M2の藤田が『第26回 回路とシステムワークショップ 奨励賞』を受賞することが決まりました．受賞論文の題目は，「画像の圧縮センシングにおける画像内圧縮率の適応的変更手法」です．

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3回生(研究室配属対象者)向け研究室見学会

投稿日: 2014年02月16日 作成者: ts

佐藤高史研では2014年2月24日(月)10:00-，25日(火)13:00-に研究室配属対象者向けの研究室見学会を開催します．詳細は http://www.pass.cce.i.kyoto-u.ac.jp/?page_id=1428 を参照ください．

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電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会(DC)

投稿日: 2014年02月13日 作成者: ts

2014年2月10日に東京の機械振興会館で開催された電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会(DC)にて，本研究室の新谷が発表を行いました(発表日は2月10日)．

半導体プロセスの微細化によって回路の特性ばらつきの影響がますます顕著となり，半導体の信頼性確保がますます重要になっています．本発表では，回路の特性ばらつきを高精度に推定する技術を提案しています．従来は，回路機能と無関係なリングオシレータなどの専用回路をばらつき推定のためだけに回路中に埋め込むことで推定を実現していました．これに対し提案手法では，量産テストで適用される最大動作周波数テストの枠組みを用いることで，追加の回路を用いることなくばらつきを高精度に推定できるようになります．これにより，回路の信頼性を低コストで向上させることが可能となります．

  • 新谷 道広, 佐藤 高史, “最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法,” 電子情報通信学会技術研究報告, vol. 113, no. 430, DC2013-85, pp. 37-42, 2014年2月.
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