ISQED2016採択決定

以下の論文が国際会議ISQED2016に採択されました。

  • Song Bian, Michihiro Shintani, Shumpei Morita, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato:
    “Nonlinear Delay-Table Approach for Full-Chip NBTI Degradation Prediction,” in Proc. of International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) (Santa Clara, CA), Mar. 2016 (to appear).
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TAU2016採択決定

以下の論文が国際会議TAU2016に採択されました。

  • Hiromitsu Awano and Takashi Sato:
    “Efficient Transistor-Level Timing Yield Estimation via Line Sampling,” in Proc. of ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues (TAU) (Santa Rosa, CA), Mar. 2016 (to appear).
  • Song Bian, Michihiro Shintani, Zheng Wang, Masayuki Hiromoto, Anupam Chattopadhyay, and Takashi Sato:
    “Mitigation of NBTI-Induced Timing Degradation in Processor,” in Proc. of ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues (TAU) (Santa Rosa, CA), Mar. 2016 (to appear).
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ISCAS2016採択決定

以下の論文が国際会議ISCAS2016に採択されました。

  • Motoki Yoshinaga, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato:
    “Physically Unclonable Function using RTN-Induced Delay Fluctuation in Ring Oscillators,” IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) (Montreal, Canada), May 2016 (to appear).
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AR.Droneコンテスト参加者募集

[お知らせ]
京都大学デザインスクールでは, スプリングデザインスクールの一部としてAR.Droneコンテストを開催します.現在,参加者を募集中です.申込みおよび詳細は下記をご参照下さい.
http://www.dl.kuis.kyoto-u.ac.jp/ddws2016/

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3回生(研究室配属対象者)の皆さんへ

佐藤高史研では2016年2月24日(水) 10:00〜12:00 に研究室配属対象者向けの研究室見学会を開催します.関連情報はこちらに掲載しています.

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電気学会 半導体電力変換研究会

2015年12月17,18日にアオーレ長岡で開催された電気学会 半導体電力変換/家電・民生/自動車 合同研究会において新谷がSiCパワーMOSFETのトランジスタモデルに関する発表を行いました.

本発表では,SiCパワーMOSFETにおける帰還容量モデルを提案しました.既存手法では物理現象を近似による簡単化により得ているのに対し,提案手法ではMOSFETの詳細な物理現象に基づいてモデル化しており,シミュレーション値は実測値をよく模擬できます.提案手法により,SiCパワーMOSFETを用いた電力変換回路の高効率な設計が可能になることが期待されます.

なお,本研究は京都大学大学院工学研究科 引原研究室と共同で行われました.

  • 新谷 道広, 中村 洋平, 廣本 正之, 引原 隆士, 佐藤 高史:
    “SiCパワーMOSFETにおける帰還容量の測定とモデル化”, 電気学会研究会資料, SPC-15-201, HCA-15-070, VT-15-041, pp.41-46, 2015年12月.
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デザインガイア2015

2015年12月1日から3日にかけて,長崎県勤労福祉会館で開催されたデザインガイア2015において,本研究室の粟野が日頃の研究成果を発表しました.

  • 粟野 皓光,佐藤 高史: モンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化, 電子情報通信学会技術研究報告(デザインガイア2015), VLD2015-16, 長崎県勤労福祉会館, 2015年12月.

ポスターセッションでも発表を行い,他大学及び企業の方々と議論を深めました.また,IEEE CEDA All Japan Joint Chapter Design Gaia Best Poster Awardを頂きました.関係者の皆様に感謝申し上げます.

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VMC2015

2015年11月5日にAustinで開催されたIEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC2015)において,D3の粟野が歩留り解析の高効率化に関する発表を行いました.微細なトランジスタでは,原子レベルの製造ばらつきがトランジスタ全体の特性を大きく変化させてしまうため,製造ばらつきが回路に与える影響を正確に見積もる技術が重要となっています.本発表では組み合わせ回路の遅延歩留り解析に特化した手法を提案し,既存手法と比較して14倍から最大で300倍の解析速度が実現可能であることを実験によって確かめました.

  • Hiromitsu Awano and Takashi Sato:
    “Fast Monte Carlo for Timing Yield Estimation Via Line Sampling,” in Proc. of Workshop on variability modeling and characterization (VMC) (Austin, TX), Nov. 2015.
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電気学会 電子デバイス・半導体電力変換 合同研究会

2015年10月29日〜30日に長崎歴史文化博物館で開催された電気学会 電子デバイス・半導体電力変換 合同研究会においてM1の周がSiCパワーMOSFETのトランジスタモデルに関する発表を行いました.発表概要は以下の通りです.

電気エネルギーの利用効率を高める材料として,SiC が注目されています.SiCの特性を最大限に引き出すには,デバイス特性を正確に模擬できるデバイスモデルを用いて回路シミュレーションを行い,回路特性を最適化する必要があります.電荷基準モデルは精度,計算速度等に優れることから,Si 集積回路の設計によく用いられています.しかし,SiCパワーデバイスは,耐圧向上やオン抵抗低減のためにデバイス構造が大きく異なります.本発表では,縦型構造を考慮した電荷基準モデルに基づくパワーMOSFETのトランジスタモデルを提案しました.SiCの特徴に合わせてピンチオフ電圧の修正と縦構造SiCMOSFETの寄生抵抗を追加することで,優れた電流特性を示すことができました.さらに既存のSiC縦構造MOSFETの容量モデルを適用した結果,過渡解析のシミュレーションにおいても実測と良く一致する結果が得られました.

  • 周 瑞, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史:
    “電荷基準モデルに基づく縦型SiCパワーMOSFETのトランジスタモデル”, 電気学会研究会資料, EDD-15-83, SPC-15-165, pp.107-112, 2015年10月.
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2015年度電気系野球大会

9月29日(火),京都御所グラウンドにて2015年度電気系野球大会の1回戦が行われました.佐藤高史研究室は中村研と対戦しましたが,激闘の末,5-6の延長サヨナラ負けで惜しくも敗退しました.

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