英文論文誌 IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing誌への以下の論文の採録が決定しました.
有機薄膜トランジスタ(OTFT)は柔軟な基板上に安価で製造できる等の利点を持つ一方で,外気にさらされることで特性が劣化することが知られています.したがって,OTFTを用いた回路設計においてこの環境劣化を見積もることは重要な課題とされています.本研究では,シリコンMOSFETにおける劣化メカニズムの1つである負バイアス温度不安定性の劣化モデルから着想を得て,環境劣化を考慮した電流モデルを提案しました.実デバイスの測定結果を用いた比較によって,提案モデルを用いることで既存の特性劣化モデルよりも正確に特性劣化を表現できることを示しました.また,リングオシレータの実測から,回路特性の劣化解析に用いることができることを示しました.
- Michihiro Shintani, Michiaki Saito, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato, “Measurement and Modeling of Ambient-air-induced Degradation in Organic Thin-Film Transistor,” IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing (to appear).
DOI: 10.1109/TSM.2020.2986609