2012年4月23日-26日に，アメリカ合衆国・ハワイ州，Hyatt Mauiにて IEEE VTS’12 (30th VLSI Test Symposium) が開催され，D2 新谷が発表を行いました．
- Michihiro Shintani and Takashi Sato, “A Bayesian-based process
parameter estimation using IDDQ current signature,” IEEE VLSI test
symposium (VTS), pp.86-91, April, 2012.
