以下の論文が電子情報通信学会 英文論文誌 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences に掲載されました．
微細化が極限に近づいてきていることにより，製造した集積回路が長期間正しく動作することを保証する信頼性考慮設計技術が重要となっています．様々な高信頼化手法によって，回路が故障に至る確率は通常かなり低く抑えられています．このため，一般的なモンテカルロ法等によりある時間経過後の故障率を計算したり，回路を長く使うにつれて故障率が時間的に変化する様子を定量的に求めることが困難となっています．本論文では，モンテカルロ法の一種であるサブセットシミュレーションを応用して故障率の時間的変化を一度のシミュレーションで求めることを提案し，また，二段階サンプリングにより計算の確度を高めることで，従来手法と同精度の計算結果を6倍高速に求めることに成功しました．
- Hiromitsu Awano and Takashi Sato:
“Efficient Aging-Aware Failure Probability Estimation Using Augmented Reliability and Subset Simulation,” IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Vol.E100-A, No.12, pp.2807-2815, Dec. 2017.
DOI: 10.1587/transfun.E100.A.2807
KURENAI: http://hdl.handle.net/2433/217470