VMC2017

2017年11月16日に米国カリフォルニア州アーバインで開催されたIEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC2017)にて研究発表を行いました.
この発表は,パワーデバイス向け回路シミュレーションモデルのパラメータ抽出に関するものです.モデルパラメータは一般に計測したデバイスの電気特性をもとに推定します.この推定作業をパラメータ抽出と呼んでいます.提案手法では,ニューラルネットワークの学習で用いられている誤差逆伝播をパワーデバイスのパラメータ抽出に応用し,従来の方法と比べて高速に合わせ込みが可能であることを確かめました.
なお,本研究は奈良先端大との共同研究です.

  • Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato, “Parameter Extraction for MOSFET current model using backward propagation of errors,”
    in Proc. Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-6, November 2017.
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