2017年3月14日～15日に米国カリフォルニア州サンタクララ市で開催された International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2017 にて，M1の森田が研究発表を行いました (発表日は15日)．
森田の発表は，集積回路の経年劣化緩和に対するものです．劣化緩和セルの置換は集積回路の遅延劣化を効果的に緩和できる手法として知られています．様々な置換法が提案されていますが，置換箇所を選択する際に必要な劣化後遅延見積もりが長い計算時間を要する課題があります．また，最適化の際に用いるべき良い目的関数も明確でありませんでした．本発表では，遅延計算を行う信号経路の選択法と目的関数について評価を行いました．評価結果から，クラスタリングを用いた手法が劣化緩和効果を損なうことなく最も計算時間を削減できるとわかりました．
- Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato:
“Comparative Study of Path Selection and Objective Function in Replacing NBTI Mitigation Logic,” in Proc. of International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), pp.426-431, Mar. 2017.
