2016年11月21日~24日に広島国際会議場で開催された Asian Test Symposium (ATS 2016) にて本研究室M2の辺が研究発表を行いました (発表日は24日).
辺の発表は,プロセッサにおけるNBTI緩和手法に関するものです.トランジスタにおける負バイアス温度不安定性(NBTI)などの経年劣化は, プロセッサに代表される論理回路の遅延を著しく劣化させることが知られています.本発表では,最悪ケースの遅延劣化をを防ぐために、特殊論理ゲートとNOP命令組み合わせて用いることで,プロセッサの経年劣化を緩和する手法を提案しました.また,経年劣化抑止ゲートの数を最小化するための遺伝的アルゴリズムに基づいた準最適化手法を提案しました.数値実験により,経年劣化は45%ほど緩和され,寿命が約6倍延長されたことが確認されました.
- Song Bian, Michihiro Shintani, Zheng Wang, Masayuki Hiromoto, Anupam Chattopadhyay, and Takashi Sato:
“Runtime NBTI Mitigation for Processor Lifespan Extension via Selective Node Control,” in Proc. of IEEE Asian Test Symposium (ATS), pp.234-239, Nov. 2016.
DOI: 10.1109/ATS.2016.31