9/14〜16に開催されたDAシンポジウム2016にて,卒業生の粟野氏が「システムとLSIの設計技術研究会 2015年度最優秀発表学生賞」を受賞しました.
- 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史:
“デバイス特性の経年劣化に起因する不良確率変化の効率的な解析手法”, 情報処理学会DAシンポジウム2015 (於 石川県加賀市山代温泉 ゆのくに天祥), pp.169-174, 2015年8月.
9/14〜16に開催されたDAシンポジウム2016にて,卒業生の粟野氏が「システムとLSIの設計技術研究会 2015年度最優秀発表学生賞」を受賞しました.
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