以下の論文が電子情報通信学会 英文論文誌 IEICE Transactions on Electronicsへ掲載されました(京大学術情報レポジトリ)．メモリ回路のように歩留りが高い回路の統計的シミュレーションでは，不良サンプルを得る確率が低いことから計算に長い時間を要していましたが，提案手法を用いることでこれを短時間で実行できるようになります．
- Shiho Hagiwara, Takanori Date, Kazuya Masu, and Takashi Sato, “Hypersphere Sampling for Accelerating High-Dimension and Low-Failure Probability Circuit-Yield Analysis,” IEICE Transactions on Electronics, Vol.E97-C, No.4, pp.280-288.