ACM/IEEE ASPDAC 2013

ASPDAC2013にて、博士課程学生の新谷氏と教員の佐藤が発表を行いました。

新谷氏の研究成果は、微細VLSI中に存在する故障の検出を高精度化する技術です。宮川氏(2012年3月修了)の研究成果は、ランダムウォークによりVLSIの電源設計品質の検証を高速に実行できるようにする技術です。特に、周波数領域の解析は、本研究が世界に先駆けて実現したものです。いずれも、我々が日常的に使用している電子機器の安全性と信頼性を高めることに貢献する技術です。

  • Tetsuro Miyakawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, ”Realization of Frequency-Domain Circuit Analysis Through Random Walk,” ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) (Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan), Jan. 2013, pp.169-174.
  • Michihiro Shintani and Takashi Sato, ”An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation,” ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) (Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan), Jan. 2013, pp.614-619.
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