IEEE VTS’12 (04/23-26)

2012年4月23日〜26日に,アメリカ合衆国・ハワイ州,Hyatt Mauiにて IEEE VTS’12 (30th VLSI Test Symposium) が開催され,D2 新谷が発表を行いました.

  • Michihiro Shintani and Takashi Sato, “A Bayesian-based process
    parameter estimation using IDDQ current signature,” IEEE VLSI test
    symposium (VTS), pp.86-91, April, 2012.
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