Tag Archives: 研究会

(日本語) 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会(DC)

Posted on 02/13/14 Thursday by ts

2014年2月10日在东京的机械振兴会馆召开的电子情报通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（DC）上，本研究室的新谷先生进行了发表。 随着半导体工艺的逐渐缩小，电路的特性偏差的影响逐渐显著，对确保半导体的信赖性是非常重要的。在本发表中，提案了一种推定电路特性偏差的高精度技术。一直以来，都采用与电路功能无关的环振荡器等专用电路嵌入被测电路中进行偏差的推定。针对这一问题本提案手法为，利用适用于量产检测的最大操作频率检测，不使用追加电路的方法而进行高精度的偏差推定。根据这一技术，将可实现低成本的电路信赖性的提高。 新谷 道広, 佐藤 高史, “最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法,” 電子情報通信学会技術研究報告, vol. 113, no. 430, DC2013-85, pp. 37-42, 2014年2月.

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(日本語) 電子情報通信学会 集積回路研究会(ICD)

Posted on 07/09/13 Tuesday by admin

2013年7月4日～5日, 在函館举办的电子情报通信学会 集成电路研究会（ICD）上， 本研究室的M2 藤田君作了研究发表(7月5日)． 藤田君本次发表是关于为了实现超低功耗电路的设计而进行的低电压仿真中电路误动作的原因分析。在实际应用中，可实现便携设备，传感器网络和蓄电池驱动的设备的低功耗化设计以及增长设备的可操作时间。 在本研究中，通过对电路的输出信号的观测，展示了电路中低电压运行时的错误原因的分析，并对每一个问题的对策进行简单化处理。 藤田隆史, 川島潤也, 廣本正之, 筒井　弘, 越智裕之, 佐藤高史, “低電源電圧におけるフリップフロップの故障モードの解析,” 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.113, No.112, pp.129-134, 2013年7月.

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环境电磁工学研究会（EMCJ）

Posted on 03/13/13 Wednesday by admin

2013年3月8日（周五），在机械振兴会馆举办的环境电磁工学研究会（EMCJ）上，Ｍ2（修士2年级）森下同学做了自己的研究成果发表。 本研究是对在集成电路中使用的电源网阻抗模型进行的，通过实现电源网中电压进行高效率仿真，希望对电子器件的稳定性和可靠性上做出相应的贡献。 森下拓海, 日高青路, 山長功, 佐藤高史, “空間周波数領域インピーダンス行列を用いたマルチポートLSIモデルの検討,” 電子情報通信学会技術研究報告 (於 機械振興会館), vol. 112, no. 468, EMCJ2012-131, pp. 79-84, 2013年3月.

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VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 颁奖仪式

Posted on 03/07/13 Thursday by admin

2013年3月4日(周一)，在冲绳县青年会馆举办的VLD 研究会上进行了VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 优秀论文颁奖仪式。本研博士课程学长新谷先生光荣获奖。本次颁奖是对国际会议ASP-DAC采用的文章(采用率31.2%)中，特別优秀论文的执笔学生进行的奖赏。 授奖论文为： Michihiro Shintani and Takashi Sato, “An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation,” ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) (Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan), … Continue reading →

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VLSI设计技术研究会 (VLD)

Posted on 03/07/13 Thursday by admin

VLSI设计技术研究会（VLD研究会）在冲绳县青年会馆举办，本研博士课程学长新谷先生发表了自己的研究成果。 IDDQ法是通过判断集成电路中漏电流的大小来判定生产的芯片是否有故障或者瑕疵。通过本研究，可以实行现短时间，高精度的集成电路或者片上系统的故障判断。 新谷道広, 佐藤高史, “パラメータ推定に基づくIDDQ 電流しきい値決定のオンラインテストに向けた高速化,” 電子情報通信学会技術研究報告 (於 沖縄県青年会館), vol. 112, no. 451, VLD2012-137, pp. 7-12, 2013年3月.

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2012年 ICD研究会

Posted on 12/20/12 Thursday by admin

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2012年12月17-18日，川島同学（修士二年级）在東京工业大学大岡山キャンパス举行的 “ICD 学生・若手研究会” 上做了以下研究成果的发表。 川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史, ”チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価”, 平成24年 ICD 学生・若手研究会 (於 東京工業大学 大岡山キャンパス 東工大蔵前会館), pp.3-8, 2012年12月.

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Design Gaia 2012

Posted on 11/27/12 Tuesday by admin

李志同学（修士课程2年级）在2012 VLD研究会做了研究发表，以下是研究题目。 Zhi Li, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “Accurate I/O Buffer Impedance Self-Adjustment using Vth and Temperature Sensors,” IEICE Technical Report, Vol.112, No.320, VLD2012-79, DC2012-45, pp.117-122, Nov. 2012.

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Smart Info-Media System(SIS)研究会(6/14-15)在带广市Ukati Plaza 举行

Posted on 06/18/12 Monday by admin

2012年6月14日〜15日，在带广市Ukati Plaza 举行的Smart Info-Media System(SIS)研究会上，筒井助教做了研究成果发表。 前野 達生, 筒井 弘, 尾上 孝雄, “動き検出履歴とコスト最適化に基づくデインタレース手法に関する検討”, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.112, No.78, SIS2012-15, pp.77-82, 2012年6月.

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2011年 所有参加的学会

Posted on 03/29/12 Thursday by admin

2011年03月14日～03月16日，ISQED(The International Symposium on Quality Electronic Design) Symposium 2011在美利坚合众国加利福尼亚州Santa Clara，Hyatt Regency Hotel举行，M1(当時)湯浅同学进行了研究成果发表。 Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “A Fully Pipelined Implementation of Monte Carlo Based SSTA on FPGAs,” in Proc. of International Symposium on Quality Electrical … Continue reading →

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