2012年4月23日〜26日，在美利坚合众国夏威夷州的Hyatt Maui举办了 IEEE VTS’12 (30th VLSI Test Symposium) ，D2 的新谷先生发表了研究成果，发表题目如下：
- Michihiro Shintani and Takashi Sato, “A Bayesian-based process
parameter estimation using IDDQ current signature,” IEEE VLSI test
symposium (VTS), pp.86-91, April, 2012.
