以下の論文が電子情報通信学会 英文論文誌 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences に掲載されました．
トランジスタの微細化により，経年劣化現象はデバイスの信頼性を脅かす主な要因となっています．特に，負バイアス温度不安定性(NBTI)のような劣化現象はワークロード，すなわちデバイス入力の信号確率に依存するため，設計段階での見積りが困難であるとされています．本論文では，プロセッサにおけるNBTI劣化とその入力ワークロードとの関係を分析し，NBTI劣化後における最悪パス遅延を見積もる手法を提案しました．提案手法では，ある回路における異なるパスの劣化度はある程度決定的であることを利用し，二段階アルゴリズムで不変パス(ICP)を特定し，それを抽出するアプローチを採用します．これに加え，ICPと内部ゲート置換(INC)最適化手法を組み合わせることでNBTI劣化後遅延を計算し，それを緩和するフレームワークを提案しました．複数のプロセッサを対象とした数値実験により，ICPを特定することで最悪遅延パス候補を1/300に削減し，ICPを利用したINC最適化の計算時間を96〜197倍高速化できることを示しました．
- Song Bian, Shumpei Morita, Michihiro Shintani, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato:
“Identification and Application of Invariant Critical Paths under NBTI Degradation,” IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Vol.E100-A, No.12, pp.2797-2806, Dec. 2017.
DOI: 10.1587/transfun.E100.A.2797
KURENAI: http://hdl.handle.net/2433/229140