IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systemsへの論文掲載

以下の論文がIEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems (TVLSI)に掲載されました.
この論文では,ランダムテレグラフノイズ(RTN)と呼ばれる現象を,IC上でランダムな0, 1の列を得る物理乱数源として用いることを提案しています.RTNをそのまま乱数として用いる場合には,乱数源としての性質が必ずしも良くない(例えば0, 1の割合が著しく偏る)ことが知られていますが,サンプリング方法を工夫することにより良質な乱数を得ることに成功しています.
本論文は,アリゾナ州立大との共同研究の成果によるものです.

  • A. Mohanty, K. B. Sutaria, H. Awano, T. Sato and Y. Cao:
    “RTN in Scaled Transistors for On-Chip Random Seed Generation,”
    IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems,
    vol. 25, no. 8, pp. 2248-2257, Aug. 2017.
    DOI: 10.1109/TVLSI.2017.2687762
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