2013年11月21日にSan Joseで開催されたIEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC2013)においてD2の粟野が集積回路の長期信頼性に関する発表を行いました．
集積回路は摩耗故障の少ないデバイスといわれていますが，微細化に伴い経年劣化が問題となってきました．特にバイアス温度不安定性(BTI)と呼ばれる特性劣化が問題視されています．
本発表では，数百個のトランジスタにおいて測定したBTI劣化特性のばらつきを報告しました．従来，BTI劣化を測定するためには1つのトランジスタあたり数時間から1日程度の時間を要しており，ばらつきの測定は不可能でした．これを解決するために，測定を並列に実行できる回路方式を考案し65nmプロセスで回路を試作しました．
BTI劣化においてばらつきを考慮することで，楽観的あるいは悲観的な劣化予測を防ぐことが可能となります．
Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato, “Statistical Observation of NBTI and PBTI Degradations,” Workshop on variability modeling and characterization (VMC), November 2013. (San Jose, CA).
また，同じワークショップにて佐藤が招待講演を行いました．
Takashi Sato, “A device array for flexible BTI characterization (invited talk),” Workshop on variability modeling and characterization (VMC), November 2013. (San Jose, CA)
