DATE 2013

2013年3月18日~22日にフランスのグルノーブルで開催された Design, Automation & Test in Europe (DATE) 2013 にて,本研究室の今川君と2009年度まで本研究室に在籍していたラコシ君が研究成果の発表を行いました (発表日は両名とも3月20日).

ラコシ君の発表は,大規模集積回路(LSI)の長期的な信頼性を確保することを目的とし,粗粒度再構成可能アーキテクチャ(CGRA)に演算要素(PE)の予防的な自己診断および交換(Hot Swap)を行う機能を持たせたアーキテクチャを提案するものです.本研究室で試作したプロトタイプのLSIチップを用いてその有効性を実証しています.

今川君の発表は,航空宇宙など放射線に対する耐性が要求される分野への再構成可能アーキテクチャの応用に向け,CGRAに選択的多重化を適用するための基礎となる技術を提案するものです.ソフトエラーに対して脆弱な部分を特定するために従来必要であった膨大なシミュレーションを不要としました.

  • Zoltán Endre Rákossy, Masayuki Hiromoto, Hiroshi Tsutsui, Takashi Sato, Yukihiro Nakamura, and Hiroyuki Ochi: “Hot-Swapping Architecture with Back-Biased Testing for Mitigation of Permanent Faults in Functional Unit Array,” Design, Automation & Test in Europe (DATE) (Grenoble, France), Mar. 2013.
  • Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “A Cost-Effective Selective TMR for Heterogeneous Coarse-Grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-Level Vulnerability Analysis,” Design, Automation & Test in Europe (DATE) (Grenoble, France), Mar. 2013.
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