ISQED 2013

2013年3月4日~6日に米国カリフォルニア州サンタクララ市で開催された International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2013 にて,本研究室の今川と粟野が研究成果の発表を行いました (発表日は両名とも3月6日).

今川の発表は,粗粒度再構成可能アーキテクチャ(CGRA)上に実装するアプリケーション回路中の,ソフトエラーに対して脆弱な領域を高速に特定する技術の解析評価に関するものです.本研究により,放射線に強い回路を構成出来るため,航空宇宙や自動車等の特に信頼性が必要とされる分野に,高性能な先端プロセスが応用できるようになります.

粟野の発表は,微細なトランジスタの信頼性を左右するランダムテレグラフノイズと呼ばれる雑音の解析に統計的機械学習を応用する研究についてです.ランダムテレグラフノイズの統計的性質の解明に役立つとともに,トランジスタモデルの精度を高めることが出来るため,回路性能の一層の向上に役立ちます.

  • Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “High-Speed DFG-Level SEU Vulnerability Analysis for Applying Selective TMR to Resource-Constrained CGRA,” International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED) (Santa Clara, CA), March 2013.
  • Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “Multi-Trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference,” International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED) (Santa Clara,CA), March 2013.

また,学会会場への移動の途中では UC Berkeley や Computer History Museum 等を見学して,刺激の多い有意義な時間を過ごすことができました.

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