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2013年7月4日～5日, 在函館举办的电子情报通信学会 集成电路研究会（ICD）上， 本研究室的M2 藤田君作了研究发表(7月5日)． 藤田君本次发表是关于为了实现超低功耗电路的设计而进行的低电压仿真中电路误动作的原因分析。在实际应用中，可实现便携设备，传感器网络和蓄电池驱动的设备的低功耗化设计以及增长设备的可操作时间。 在本研究中，通过对电路的输出信号的观测，展示了电路中低电压运行时的错误原因的分析，并对每一个问题的对策进行简单化处理。 藤田隆史, 川島潤也, 廣本正之, 筒井　弘, 越智裕之, 佐藤高史, “低電源電圧におけるフリップフロップの故障モードの解析,” 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.113, No.112, pp.129-134, 2013年7月.