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2012年12月17-18日,川島同学(修士二年级)在東京工业大学大岡山キャンパス举行的 “ICD 学生・若手研究会” 上做了以下研究成果的发表。 川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史, ”チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価”, 平成24年 ICD 学生・若手研究会 (於 東京工業大学 大岡山キャンパス 東工大蔵前会館), pp.3-8, 2012年12月.
以下论文被 IEICE Transactions on Electronics 采用了. Koh Yamanaga, Shiho Hagiwara, Ryo Takahashi, Kazuya Masu, and Takashi Sato, “State-Dependence of On-Chip Power Distribution Network Capacitance: Measurement and Analysis, to appear in IEICE Transactions on Electronics, Vol.E97-C, No.1, Jan. 2014.
2013年7月4日~5日, 在函館举办的电子情报通信学会 集成电路研究会(ICD)上, 本研究室的M2 藤田君作了研究发表(7月5日). 藤田君本次发表是关于为了实现超低功耗电路的设计而进行的低电压仿真中电路误动作的原因分析。在实际应用中,可实现便携设备,传感器网络和蓄电池驱动的设备的低功耗化设计以及增长设备的可操作时间。 在本研究中,通过对电路的输出信号的观测,展示了电路中低电压运行时的错误原因的分析,并对每一个问题的对策进行简单化处理。 藤田隆史, 川島潤也, 廣本正之, 筒井 弘, 越智裕之, 佐藤高史, “低電源電圧におけるフリップフロップの故障モードの解析,” 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.113, No.112, pp.129-134, 2013年7月.
电子情报通信学会的英文论文集 IEICE Transactions on Electronics, IEICE Transactions on Information and Systems 中,被采用的论文为以下几篇: Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato, “Parallel acceleration scheme for Monte Carlo based SSTA using generalized STA processing element,” IEICE Transactions on Electronics, Vol.E96-C, No.4, … Continue reading
2013年3月19~22日,2013年度电子情报通信学会之综合大会在岐阜大学召开,本研究室岡崎君, 張君, 藤田君发表了自己的研究成果。 岡崎剛, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史, “ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討,” 電子情報通信学会総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集, A-3-1, p.61, 2013年3月. Shiyi Zhang, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “Evaluation of Dependent Node Selection of Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis,” Proceedings of the 2013 IEICE … Continue reading
2013年3月8日(周五),在机械振兴会馆举办的环境电磁工学研究会(EMCJ)上,M2(修士2年级)森下同学做了自己的研究成果发表。 本研究是对在集成电路中使用的电源网阻抗模型进行的,通过实现电源网中电压进行高效率仿真,希望对电子器件的稳定性和可靠性上做出相应的贡献。 森下拓海, 日高青路, 山長功, 佐藤高史, “空間周波数領域インピーダンス行列を用いたマルチポートLSIモデルの検討,” 電子情報通信学会技術研究報告 (於 機械振興会館), vol. 112, no. 468, EMCJ2012-131, pp. 79-84, 2013年3月.
2013年3月4日(周一),在冲绳县青年会馆举办的VLD 研究会上进行了VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 优秀论文颁奖仪式。本研博士课程学长新谷先生光荣获奖。本次颁奖是对国际会议ASP-DAC采用的文章(采用率31.2%)中,特別优秀论文的执笔学生进行的奖赏。 授奖论文为: Michihiro Shintani and Takashi Sato, “An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation,” ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) (Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan), … Continue reading
VLSI设计技术研究会(VLD研究会)在冲绳县青年会馆举办,本研博士课程学长新谷先生发表了自己的研究成果。 IDDQ法是通过判断集成电路中漏电流的大小来判定生产的芯片是否有故障或者瑕疵。通过本研究,可以实行现短时间,高精度的集成电路或者片上系统的故障判断。 新谷道広, 佐藤高史, “パラメータ推定に基づくIDDQ 電流しきい値決定のオンラインテストに向けた高速化,” 電子情報通信学会技術研究報告 (於 沖縄県青年会館), vol. 112, no. 451, VLD2012-137, pp. 7-12, 2013年3月.
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2012年12月17-18日,川島同学(修士二年级)在東京工业大学大岡山キャンパス举行的 “ICD 学生・若手研究会” 上做了以下研究成果的发表。 川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史, ”チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価”, 平成24年 ICD 学生・若手研究会 (於 東京工業大学 大岡山キャンパス 東工大蔵前会館), pp.3-8, 2012年12月.
以下2篇论文被IEICE电子通信期刊采用 : Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “Parallel Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA using Generalized STA Processing Element,” IEICE Transactions on Electronics, Apr. 2013 (to appear). Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “A … Continue reading