Tag Archives: IEEE

Deepak Mathur 先生演讲会

Posted on 08/02/12 Thursday by admin

8月2日(星期四) ，在京都大学工学部3号馆 Deepak Mathur 先生做了标题为“ Humanitarian Technology”的 演讲(隶属IEEE 关西支部 第72回技术演讲会)．川島同学（修士二年级）作为 Student Branch 的成员， 负责了本次演讲会的筹备工作。 主办: IEEE Student Branch at Kyoto University, IEEE 关西支部

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IEEE VTS’12 (04/23-26)

Posted on 06/13/12 Wednesday by admin

2012年4月23日〜26日，在美利坚合众国夏威夷州的Hyatt Maui举办了 IEEE VTS’12 (30th VLSI Test Symposium) ，D2 的新谷先生发表了研究成果，发表题目如下： Michihiro Shintani and Takashi Sato, “A Bayesian-based process parameter estimation using IDDQ current signature,” IEEE VLSI test symposium (VTS), pp.86-91, April, 2012.

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ISQED2012 (03/19-03/21)

Posted on 05/01/12 Tuesday by admin

2012年3月19日〜21日，ISQED (The International Symposium on Quality Electronic Design) Symposium 2012 在美利坚合众国加利福尼亚州Santa Clara，Techmart Center举行。佐藤教授做了以下的研究发表。 Takashi Sato, Hiromitsu Awano, Hirofumi Shimizu, Hiroshi Tsutsui, and Hiroyuki Ochi: “Statistical Observations of NBTI-Induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-Area Devices,” in Proc. of International Symposium … Continue reading →

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TAU’12 (01/18-01/20)

Posted on 03/29/12 Thursday by admin

2012年1月18日〜20日に，台湾・台北市，National Taiwan Universityにて TAU ’12 Workshop (The 19th ACM/IEEE International Workshop o Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems) が開催され，M2 湯浅が発表を行いました． Hiroshi Yuasa, et.al., “Acceleration Scheme for Monte Carlo based SSTA using Generalized STA Processing Element”

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2011年 所有参加的学会

Posted on 03/29/12 Thursday by admin

2011年03月14日～03月16日，ISQED(The International Symposium on Quality Electronic Design) Symposium 2011在美利坚合众国加利福尼亚州Santa Clara，Hyatt Regency Hotel举行，M1(当時)湯浅同学进行了研究成果发表。 Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “A Fully Pipelined Implementation of Monte Carlo Based SSTA on FPGAs,” in Proc. of International Symposium on Quality Electrical … Continue reading →

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参加学会2010年

Posted on 03/29/12 Thursday by admin

2010年03月18日～03月19日，TAU 2010(ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU Workshop) )在美国加州旧金山的Marriott Fisherman’s Wharf举行，B4(当时)片山同学此次学会中进行了研究发表． Kentaro Katayama, Takanori Date, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “Sequential Importance Sampling for Low-Probability and High-Dimensional SRAM Yield Analysis,” in … Continue reading →

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