2013年3月18日～22日Design, Automation & Test in Europe (DATE) 2013在法国格勒诺布尔市举办，本研究室今川学长和2009年度本研究室在籍的Rákossy先生进行了研究成果发表。 Zoltán Endre Rákossy, Masayuki Hiromoto, Hiroshi Tsutsui, Takashi Sato, Yukihiro Nakamura, and Hiroyuki Ochi: “Hot-Swapping Architecture with Back-Biased Testing for Mitigation of Permanent Faults in Functional Unit Array,” Design, Automation & Test … Continue reading
森下同学(M2)的论文被GLSVLSI2013 (5月)采用。论文题目为: Takumi Morishita, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato, “Fast and Memory-Efficient GPU Implementations of Krylov Subspace Methods for Efficient Power Grid Analysis,” Proc. of GLSVLSI (Paris, France), May. 2013 (to appear).
2013年2月12日（周二），在2013年IEEE关西支部总会的IEEE关西支部学生奖励研究表彰会上，毕业生片山 健太朗先生和修士二年级学生川岛同学获得了研究奖励。获奖论文（国际会议发表论文）为 Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “A Design Strategy for Sub-Threshold Circuits Considering Energy-Minimization and Yield-Maximization,” in Proc. of IEEE International SOC Conference (SOCC) (Taipei, Taiwan), pp.57-62, Sep. 2011. Kentaro Katayama, Shiho Hagiwara, Hiroshi Tsutsui, … Continue reading
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本研究室博士生新谷先生与佐藤教授于ASPDAC2013做了研究发表。 新谷先生的研究成果大大提高了隐含在VLSI设计中存在的技术故障的检出精度。宫川先生 (2012年3月毕业生) 的研究成果则是实现了通过随机游走 (Random Walk) 技术对VLSI的电源设计品质进行高速验证。特别是对于频域分析领域的研究，本研究成果则是确立了世界领先的地位。以上的研究成果与技术，对我们日常使用的电子产品的安全性和信赖性的提高做出了巨大的贡献!
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2012年12月15日(周六)，“IEEE Student Branch Leadership Training Workshop” 在明治大学駿河台キャンパス举行。本研究室川島同学（研二）和奥畑同学（研一）代表京大学生支部（Student Branch）参加了本次交流。
以下2篇论文将刊登在ISQED2013（2013年3月） Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “Multi-Trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference,” International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED) (Santa Clara, CA), Mar. 2013 (to appear). Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “High-Speed … Continue reading
以下两篇论文将发表在ASP-DAC 2013（采用率97/311=31.2%） Michihiro Shintani and Takashi Sato, “An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation,” ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) (Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan), Jan. 2013 (to appear). Tetsuro Miyakawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki … Continue reading
以下两篇论文被DATE2013采用并将发表。根据本次论文审查的统计结果，在829篇论文中，有206篇通过了审查（审查采用率24.8%）。 Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “A Cost-Effective Selective TMR for Heterogeneous Coarse-Grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-Level Vulnerability Analysis,” DATE 2013 (Grenoble, France), Mar. 2013 (to appear), short presentation. Zoltan Endre Rakosi, Masayuki Hiromoto, Hiroshi Tsutsui, … Continue reading
2012年11月8日，VMC2012 (IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization 2012)在美国加利福尼亚州圣何塞市隆重开幕，本研究室进行了研究成果的海报发表，并于附近的计算机历史博物馆就计算机的发展史参观学习。 Michihiro Shintani and Takashi Sato, “Adaptive Current-Threshold Determination for Accurate IDDQ Testing,” IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC2012), November 2012.
2012年10月22日-24日间，EPEPS2012 (21st Conference on Electrical Performance of Electronic Packaging and Systems)在美国亚利桑那州坦佩市Tempe Mission Palms Hotel召开。本研究室就与村田制作所合作研究的成果进行了发表。 Koh Yamanaga and Takashi Sato, “The odd couple: antiresonance control by two capacitors of unequal series resistances,” IEEE 21st Conference on Electrical Performance of Electronic Packaging … Continue reading
