DAシンポジウム2013

Posted on 08/27/13 Tuesday by hiromoto

2013年8月21〜22日在下呂举行的DAシンポジウム2013上，粟野同学（博士课程一年级）做了关于集成电路的長期信頼性的研究发表。

  • 粟野 皓光, 佐藤 高史:
    “トランジスタアレイを用いたBTI劣化の統計的観測”, 情報処理学会DAシンポジウム2013 (於 岐阜県下呂市 ホテル下呂温泉水明館), pp.85-90, 2013年8月.
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