VLSI设计技术研究会（VLD研究会）在冲绳县青年会馆举办，本研博士课程学长新谷先生发表了自己的研究成果。 IDDQ法是通过判断集成电路中漏电流的大小来判定生产的芯片是否有故障或者瑕疵。通过本研究，可以实行现短时间，高精度的集成电路或者片上系统的故障判断。 新谷道広, 佐藤高史, “パラメータ推定に基づくIDDQ 電流しきい値決定のオンラインテストに向けた高速化,” 電子情報通信学会技術研究報告 (於 沖縄県青年会館), vol. 112, no. 451, VLD2012-137, pp. 7-12, 2013年3月.
森下同学(M2)的论文被GLSVLSI2013 (5月)采用。论文题目为: Takumi Morishita, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato, “Fast and Memory-Efficient GPU Implementations of Krylov Subspace Methods for Efficient Power Grid Analysis,” Proc. of GLSVLSI (Paris, France), May. 2013 (to appear).
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本研究室博士生新谷先生与佐藤教授于ASPDAC2013做了研究发表。 新谷先生的研究成果大大提高了隐含在VLSI设计中存在的技术故障的检出精度。宫川先生 (2012年3月毕业生) 的研究成果则是实现了通过随机游走 (Random Walk) 技术对VLSI的电源设计品质进行高速验证。特别是对于频域分析领域的研究，本研究成果则是确立了世界领先的地位。以上的研究成果与技术，对我们日常使用的电子产品的安全性和信赖性的提高做出了巨大的贡献!
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2012年12月17-18日，川島同学（修士二年级）在東京工业大学大岡山キャンパス举行的 “ICD 学生・若手研究会” 上做了以下研究成果的发表。 川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史, ”チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価”, 平成24年 ICD 学生・若手研究会 (於 東京工業大学 大岡山キャンパス 東工大蔵前会館), pp.3-8, 2012年12月.
2012年12月3～6日间，本研究室筒井助教授在美国好莱坞举办的Asia-Pacific Signal and Information Processing Association (APSIPA) Annual Summit and Conference (ASC) 2012会议进行了自己的研究发表（发表日为12月5日） Hiroshi Tsutsui, Satoshi Yoshikawa, Hiroyuki Okuhata, and Takao Onoye, “Halo Artifacts Reduction Method for Variational Based Realtime Retinex Image Enhancement,” in Proc. of APSIPA ASC 2012, Dec. 2012.
2012年12月1日，DVLSI国際シンポジウム2012 (JST International Symposium on Dependable VLSI Systems 2012) 在FUJISOFT AKIBA PLAZA 5F AKIBA HALL举办。本研究室就参与的「ロバストファブリックを用いたディペンダブルVLSIプラットフォーム」研究课题中相关研究进行了海报海报发表。（本课题是JST CREST的「ディペンダブルVLSIシステムの基盤技術」研究领域中的一个课题，课题带头人为小野寺教授）
李志同学（修士课程2年级）在2012 VLD研究会做了研究发表，以下是研究题目。 Zhi Li, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “Accurate I/O Buffer Impedance Self-Adjustment using Vth and Temperature Sensors,” IEICE Technical Report, Vol.112, No.320, VLD2012-79, DC2012-45, pp.117-122, Nov. 2012.
以下2篇论文将刊登在ISQED2013（2013年3月） Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “Multi-Trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference,” International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED) (Santa Clara, CA), Mar. 2013 (to appear). Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “High-Speed … Continue reading
以下两篇论文将发表在ASP-DAC 2013（采用率97/311=31.2%） Michihiro Shintani and Takashi Sato, “An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation,” ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) (Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan), Jan. 2013 (to appear). Tetsuro Miyakawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki … Continue reading
以下两篇论文被DATE2013采用并将发表。根据本次论文审查的统计结果，在829篇论文中，有206篇通过了审查（审查采用率24.8%）。 Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “A Cost-Effective Selective TMR for Heterogeneous Coarse-Grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-Level Vulnerability Analysis,” DATE 2013 (Grenoble, France), Mar. 2013 (to appear), short presentation. Zoltan Endre Rakosi, Masayuki Hiromoto, Hiroshi Tsutsui, … Continue reading
