Category Archives: Conference/Workshop

(日本語) 情報処理学会 SLDM研究会

Posted on 06/02/14 Monday by hiromoto

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(日本語) ESSDERC2014 採択決定

Posted on 05/29/14 Thursday by admin

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(日本語) アジア情報学セミナー2014

Posted on 03/21/14 Friday by ts

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ISQED2014

Posted on 03/09/14 Sunday by ts

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(日本語) EMC’14/Tokyo採択決定

Posted on 03/07/14 Friday by ts

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(日本語) 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会(DC)

Posted on 02/13/14 Thursday by ts

2014年2月10日在东京的机械振兴会馆召开的电子情报通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（DC）上，本研究室的新谷先生进行了发表。 随着半导体工艺的逐渐缩小，电路的特性偏差的影响逐渐显著，对确保半导体的信赖性是非常重要的。在本发表中，提案了一种推定电路特性偏差的高精度技术。一直以来，都采用与电路功能无关的环振荡器等专用电路嵌入被测电路中进行偏差的推定。针对这一问题本提案手法为，利用适用于量产检测的最大操作频率检测，不使用追加电路的方法而进行高精度的偏差推定。根据这一技术，将可实现低成本的电路信赖性的提高。 新谷 道広, 佐藤 高史, “最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法,” 電子情報通信学会技術研究報告, vol. 113, no. 430, DC2013-85, pp. 37-42, 2014年2月.

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VMC2013

Posted on 11/29/13 Friday by ts

在2013年11月21日San Jose举办的IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC2013)会议中，D2的粟野先生发表了关于集成电路长期信赖性的文章。虽然集成电路被称为消磨损耗非常低的器件，但是随着尺寸的缩小，器件老化带来的问题也日益加重。特别是偏置电压随温度的不稳定性（BTI）越来越受到重视。 在此次发表中，讲述了对于数百晶体管的关于BTI劣化特性的偏差的测量。通常对BTI裂化的测量，1个晶体管往往要花费数小时到一天的时间，使偏差的测量变得不可能。为了解决这一问题，采用并行测量的电路设计方案，进行了65nm工艺芯片的制作。 在对BTI劣化中偏差的分析，可以防止乐观的或悲观的劣化预测。 Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato, “Statistical Observation of NBTI and PBTI Degradations,” Workshop on variability modeling and characterization (VMC), November 2013. (San Jose, CA). 同时，在同一个Workshop中，佐藤先生也进行了演讲 Takashi Sato, … Continue reading →

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ASICON 2013

Posted on 11/04/13 Monday by ts

2013年10月28日～31日，ASICON 2013在中国深圳举办，本研究室的佐藤进行了演讲. Takashi Sato, “Statistical simulation methods for analyzing performance of low supply voltage circuits (invited),” in Proc. IEEE 10th International Conference on ASIC (ASICON), pp.103-106, September, 2013.　(Best Western Shenzhen Felicity Hotel, Shenzhen, China) 本论文中，回顾了在低耗能电力回路中非常重要的考虑分散的电路设计时利用的模拟方法.在学会上与海外的老师进行技术交流之余，去看了像秋叶原那样的电器街，感受到了中国电器电子界的活力.

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SASIMI 2013

Posted on 10/28/13 Monday by admin

2013年10月21日～22日，SASIMI 2013 在札幌举办，本研究室的今川做了海报发表(发表日为10月21日). 今川的发表是关于，在利用时间多重化的粗粒度可再构成体系结构(CGRA)中的应用程序回路的布局和布线. 在回路面积被限制的情况下，时间多重化是比空間多重化效率更高的电路平均寿命改善方法. 在本研究中，特别考虑了通过把它应用到 CGRA 可同时提高软错误和硬错误的容错. 但是，通过这个方法达成的硬错误容错和电路性能间有权衡关系，本发表证明了通过应用程序回路的布局和布线可以控制此权衡关系. 通过此研究，可以预期医疗、车载、基础设施等领域的LSI系统的高效率的信赖性改善.  “SASIMI 2013 Outstanding Paper Award” Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “Place-and-Route Algorithms for a Reliability-Oriented Coarse-Grained Reconfigurable Architecture using Time Redundancy,” The 18th Workshop on Synthesis And System Integration … Continue reading →

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2013年 电子情报通信学会 ソサイエティ大会

Posted on 09/20/13 Friday by hiromoto

2013年9月17日至20日，电子情报通信学会society大会在福岡工業大学举办，本研究室的羅丹同学（B4）做了研究发表(发表日为9月18日)． 罗丹同学的发表是关于图像传感器的低功耗化和图像高清化的研究。近年来，感知网络等应用中，作为抑制图像传感器功耗的方法之一，感知压缩（Compressive Sensing）方法倍受瞩目。感知压缩方法是在得到数据的同时对数据进行压缩的一种手段。本方法应用在图像传感器时，使得图像的采样次数比图像的像素数要小。本方法，最终可使得低功耗高清图像传感器成为现实。 羅 丹, 藤田 隆史, 廣本 正之, 佐藤 高史: “TV最適化を用いた可変レート圧縮センシング”, 電子情報通信学会ソサイエティ大会 (於 福岡工業大学), A-4-12, p.64, 2013年9月.

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