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(日本語) DATE2015採択決定
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(日本語) IEEE 論文誌 (IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)への論文掲載
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(日本語) Yiyu Shi先生,Andy,Yu-Guang Chenさん歓迎会
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(日本語) ESSDERC2014 採択決定
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(日本語) IEEE Transactions on Device and Materials Reliabilityへの論文採録決定
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SASIMI 2013
2013年10月21日~22日,SASIMI 2013 在札幌举办,本研究室的今川做了海报发表(发表日为10月21日). 今川的发表是关于,在利用时间多重化的粗粒度可再构成体系结构(CGRA)中的应用程序回路的布局和布线. 在回路面积被限制的情况下,时间多重化是比空間多重化效率更高的电路平均寿命改善方法. 在本研究中,特别考虑了通过把它应用到 CGRA 可同时提高软错误和硬错误的容错. 但是,通过这个方法达成的硬错误容错和电路性能间有权衡关系,本发表证明了通过应用程序回路的布局和布线可以控制此权衡关系. 通过此研究,可以预期医疗、车载、基础设施等领域的LSI系统的高效率的信赖性改善. “SASIMI 2013 Outstanding Paper Award” Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “Place-and-Route Algorithms for a Reliability-Oriented Coarse-Grained Reconfigurable Architecture using Time Redundancy,” The 18th Workshop on Synthesis And System Integration … Continue reading