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2013年研究室欢送会
平成25年3月12日（周二）18時30分开始，本研究室欢送会在京都ロイヤルホテル举行。
DATE 2013
2013年3月18日～22日Design, Automation & Test in Europe (DATE) 2013在法国格勒诺布尔市举办，本研究室今川学长和2009年度本研究室在籍的Rákossy先生进行了研究成果发表。 Zoltán Endre Rákossy, Masayuki Hiromoto, Hiroshi Tsutsui, Takashi Sato, Yukihiro Nakamura, and Hiroyuki Ochi: “Hot-Swapping Architecture with Back-Biased Testing for Mitigation of Permanent Faults in Functional Unit Array,” Design, Automation & Test … Continue reading
2013年度电子情报通信学会之综合大会
2013年3月19～22日，2013年度电子情报通信学会之综合大会在岐阜大学召开，本研究室岡崎君, 張君, 藤田君发表了自己的研究成果。 岡崎剛, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史, “ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討,” 電子情報通信学会総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集, A-3-1, p.61, 2013年3月. Shiyi Zhang, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “Evaluation of Dependent Node Selection of Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis,” Proceedings of the 2013 IEICE … Continue reading
ISQED 2013
2013年3月4日～6日，International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2013在美国加利福尼亚州圣克拉拉市举行，本研究室今川和粟野学长做了自己的研究发表。 Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “High-Speed DFG-Level SEU Vulnerability Analysis for Applying Selective TMR to Resource-Constrained CGRA,” International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED) (Santa Clara, CA), March … Continue reading
环境电磁工学研究会（EMCJ）
2013年3月8日（周五），在机械振兴会馆举办的环境电磁工学研究会（EMCJ）上，Ｍ2（修士2年级）森下同学做了自己的研究成果发表。 本研究是对在集成电路中使用的电源网阻抗模型进行的，通过实现电源网中电压进行高效率仿真，希望对电子器件的稳定性和可靠性上做出相应的贡献。 森下拓海, 日高青路, 山長功, 佐藤高史, “空間周波数領域インピーダンス行列を用いたマルチポートLSIモデルの検討,” 電子情報通信学会技術研究報告 (於 機械振興会館), vol. 112, no. 468, EMCJ2012-131, pp. 79-84, 2013年3月.
VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 颁奖仪式
2013年3月4日(周一)，在冲绳县青年会馆举办的VLD 研究会上进行了VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 优秀论文颁奖仪式。本研博士课程学长新谷先生光荣获奖。本次颁奖是对国际会议ASP-DAC采用的文章(采用率31.2%)中，特別优秀论文的执笔学生进行的奖赏。 授奖论文为： Michihiro Shintani and Takashi Sato, “An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation,” ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) (Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan), … Continue reading
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Tagged ASP-DAC, Award, IEICE, VLD, 研究会
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VLSI设计技术研究会 (VLD)
VLSI设计技术研究会（VLD研究会）在冲绳县青年会馆举办，本研博士课程学长新谷先生发表了自己的研究成果。 IDDQ法是通过判断集成电路中漏电流的大小来判定生产的芯片是否有故障或者瑕疵。通过本研究，可以实行现短时间，高精度的集成电路或者片上系统的故障判断。 新谷道広, 佐藤高史, “パラメータ推定に基づくIDDQ 電流しきい値決定のオンラインテストに向けた高速化,” 電子情報通信学会技術研究報告 (於 沖縄県青年会館), vol. 112, no. 451, VLD2012-137, pp. 7-12, 2013年3月.
面向学部三年级同学的研究室参观会（第二天）
2月22日，面向学部三年级同学的研究室参观会的第二天，欲参加的同学可以通过 contact(at)easter.kuee.kyoto-u.ac.jp 联系我们。 非常感谢！
面向学部三年级同学的研究室参观会（第一天）
今天是面向学部三年级同学的研究室参观会的第一天（2013年2月21日），具体活动以及研究室情况请参看http://www.pass.cce.i.kyoto-u.ac.jp/?page_id=1428
第九回（2012年）IEEE关西支部学生研究奖励表彰会
2013年2月12日（周二），在2013年IEEE关西支部总会的IEEE关西支部学生奖励研究表彰会上，毕业生片山 健太朗先生和修士二年级学生川岛同学获得了研究奖励。获奖论文（国际会议发表论文）为 Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “A Design Strategy for Sub-Threshold Circuits Considering Energy-Minimization and Yield-Maximization,” in Proc. of IEEE International SOC Conference (SOCC) (Taipei, Taiwan), pp.57-62, Sep. 2011. Kentaro Katayama, Shiho Hagiwara, Hiroshi Tsutsui, … Continue reading