Tag Archives: VLD

2019年5月VLD研究会

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(日本語) Excellent student author award for ASP-DAC2019受賞

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(日本語) 2016年3月VLD研究会

对不起,此内容只适用于日本語。

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(日本語) 2015年3月VLD研究会

对不起,此内容只适用于日本語。

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VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 颁奖仪式

2013年3月4日(周一),在冲绳县青年会馆举办的VLD 研究会上进行了VLD Excellent Student Author Award for ASP-DAC 优秀论文颁奖仪式。本研博士课程学长新谷先生光荣获奖。本次颁奖是对国际会议ASP-DAC采用的文章(采用率31.2%)中,特別优秀论文的执笔学生进行的奖赏。 授奖论文为: Michihiro Shintani and Takashi Sato, “An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation,” ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) (Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan), … Continue reading

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VLSI设计技术研究会 (VLD)

VLSI设计技术研究会(VLD研究会)在冲绳县青年会馆举办,本研博士课程学长新谷先生发表了自己的研究成果。 IDDQ法是通过判断集成电路中漏电流的大小来判定生产的芯片是否有故障或者瑕疵。通过本研究,可以实行现短时间,高精度的集成电路或者片上系统的故障判断。 新谷道広, 佐藤高史, “パラメータ推定に基づくIDDQ 電流しきい値決定のオンラインテストに向けた高速化,” 電子情報通信学会技術研究報告 (於 沖縄県青年会館), vol. 112, no. 451, VLD2012-137, pp. 7-12, 2013年3月.

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Design Gaia 2012

李志同学(修士课程2年级)在2012 VLD研究会做了研究发表,以下是研究题目。 Zhi Li, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato, “Accurate I/O Buffer Impedance Self-Adjustment using Vth and Temperature Sensors,” IEICE Technical Report, Vol.112, No.320, VLD2012-79, DC2012-45, pp.117-122, Nov. 2012.

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2011年 所有参加的学会

2011年03月14日~03月16日,ISQED(The International Symposium on Quality Electronic Design) Symposium 2011在美利坚合众国加利福尼亚州Santa Clara,Hyatt Regency Hotel举行,M1(当時)湯浅同学进行了研究成果发表。 Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “A Fully Pipelined Implementation of Monte Carlo Based SSTA on FPGAs,” in Proc. of International Symposium on Quality Electrical … Continue reading

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