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本研究室博士生新谷先生与佐藤教授于ASPDAC2013做了研究发表。 新谷先生的研究成果大大提高了隐含在VLSI设计中存在的技术故障的检出精度。宫川先生 (2012年3月毕业生) 的研究成果则是实现了通过随机游走 (Random Walk) 技术对VLSI的电源设计品质进行高速验证。特别是对于频域分析领域的研究，本研究成果则是确立了世界领先的地位。以上的研究成果与技术，对我们日常使用的电子产品的安全性和信赖性的提高做出了巨大的贡献!
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2012年12月17-18日，川島同学（修士二年级）在東京工业大学大岡山キャンパス举行的 “ICD 学生・若手研究会” 上做了以下研究成果的发表。 川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史, ”チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価”, 平成24年 ICD 学生・若手研究会 (於 東京工業大学 大岡山キャンパス 東工大蔵前会館), pp.3-8, 2012年12月.
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2012年12月15日(周六)，“IEEE Student Branch Leadership Training Workshop” 在明治大学駿河台キャンパス举行。本研究室川島同学（研二）和奥畑同学（研一）代表京大学生支部（Student Branch）参加了本次交流。
