IEEE Kansai Chapter MFSK Award受賞

M2の大島が,11月27日にオンラインで開催された第20回IEEE関西コロキアム電子デバイスワークショップにおいて「IEEE Kansai Chapter MFSK Award」を受賞しました.受賞発表は以下の通りです.

  • Experimental study of bias stress degradation of organic thin filmtransistors [SSDM],
    K. Oshima, M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato.
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