2012年3月19日〜21日に，アメリカ合衆国・カリフォルニア州Santa Clara，Techmart Centerにて開催された ISQED (The International Symposium on Quality Electronic Design) Symposium 2012 で，佐藤が研究成果の発表を行いました．
- Takashi Sato, Hiromitsu Awano, Hirofumi Shimizu, Hiroshi Tsutsui, and Hiroyuki Ochi:
“Statistical Observations of NBTI-Induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-Area Devices,” in Proc. of International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED) (Santa Clara, CA), pp.306-311, Mar. 2012.
