英文論文誌 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciencesへの論文掲載

以下の論文が電子情報通信学会 英文論文誌 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences に掲載されました.

近年,トランジスタサイズの微細化により,集積回路の摩耗故障などの信頼性課題が顕在化しています.中でも,負バイアス温度不安定性(Negative BiasTemperature Instability, NBTI)と呼ばれる現象は,劣化の主要要因の一つです.NBTIの劣化を緩和するために,負荷がかかっており劣化が激しい箇所を劣化緩和セルに置換するという手法は効果的であると知られています.しかし,
回路中には負荷がかかっている箇所は多数存在するため,効果的な置換箇所を選択するのは困難な課題です.本論文では,回路中の信号経路を類似性の観点からグルーピングし,各グループの代表となる信号経路から置換箇所を探すことで,計算時間の高速化を行いました.また,回路構造に基づき置換箇所の枝刈りを行うことで,更に計算時間を削減しました.プロセッサを用いた評価実験から,提案手法によって緩和効果を維持したまま171倍計算時間を高速化できると示されました.

  • Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato:
    “Utilization of Path-Clustering in Efficient Stress-Control Gate Replacement for NBTI Mitigation,” IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Vol.E100-A, No.7, pp.1464-1472, July 2017.
    DOI: 10.1587/transfun.E100.A.1464
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