APEC 2017

2017年3月26日〜30日に米国フロリダ州タンパで開催されIEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC) 2017にて特定助教の新谷が研究成果の発表を行いました(発表日は30日).

新谷は,パワーエレクトロニクスにおける偽造デバイス問題に焦点を当て,その先駆けとなる発表を行いました.APECは,パワーエレクトロニクスに関する最大の国際会議です.本会議では, 3000人以上の研究者・技術者が参加して活発な議論を交わし,併設の展示会では100社の企業が展示を行いました.最新のパワーエレクトロニクス技術,製品に触れ,多いに刺激を受けました.

  • Michihiro Shintani, Kazuki Oishi, Rui Zhou, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato:
    “Device Identification from Mixture of Measurable Characteristics,” in Proc. of the 32nd Annual IEEE Applied Power Electronics Conference & Exposition (APEC), Mar. 2017.
カテゴリー: Conference/Workshop, Publication タグ: パーマリンク