2015年3月9日〜13日にフランスのグルノーブルで開催されたDesign, Automation and Test in Europe (DATE) 2015にて，本研究室の粟野が研究成果の発表を行いました（発表日は3月11日，オーラルの採択率: 205/915=22.4%）．
DATEは集積回路の設計自動化やテストに関する最難関の国際会議の1つであり，例年，ヨーロッパを中心に開催されています．集積回路の製造ばらつきを克服するための技術といった従来からあるトピックの他に，製造ばらつきを活用したチップ識別（PUF）といった近年注目されている分野の講演も多数あり，最近の研究動向を知る良い機会になりました．
- Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato, “ECRIPSE: an Efficient Method for Calculating RTN-Induced Failure Probability of an SRAM Cell,” in Proc. of Design, Automation and Test in Europe (DATE) (Grenoble, France), pp. 549-554, Mar. 2015.
