以下の論文が電子情報通信学会 英文論文誌 IEICE Transactions on Information and Systemsへ掲載されました．
IDDQテストはチップが動作していない状態での漏れ電流を測定することにより，製造後のチップに故障が含まれているかを判定するテスト手法です．近年の特性ばらつきの増大によって，漏れ電流が大きいことの原因がばらつきによるものか，チップ内に存在する漏れ電流を増やす故障によるものかの区別が難しくなっています．本論文は，この課題を解決しています．提案手法では，まず，チップ毎の特性ばらつき推定を行います．続いて，特性ばらつき推定結果から期待される漏れ電流電流の範囲を計算します．この計算結果をもとに故障の有無を判定する基準をチップ毎に設定することにより，良品と不良品を高精度に判定できるようになります．これにより，回路の信頼性を一層向上できます．
- Michihiro Shintani and Takashi Sato, “IDDQ Outlier Screening through Two-phase Approach: Clustering-based Filtering and Estimation-based Current-threshold Determination,” IEICE Transactions on Information and Systems, Vol.E97-D, No.8, pp.2095-2104.