2014年2月10日に東京の機械振興会館で開催された電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会(DC)にて，本研究室の新谷が発表を行いました(発表日は2月10日)．
半導体プロセスの微細化によって回路の特性ばらつきの影響がますます顕著となり，半導体の信頼性確保がますます重要になっています．本発表では，回路の特性ばらつきを高精度に推定する技術を提案しています．従来は，回路機能と無関係なリングオシレータなどの専用回路をばらつき推定のためだけに回路中に埋め込むことで推定を実現していました．これに対し提案手法では，量産テストで適用される最大動作周波数テストの枠組みを用いることで，追加の回路を用いることなくばらつきを高精度に推定できるようになります．これにより，回路の信頼性を低コストで向上させることが可能となります．
- 新谷 道広, 佐藤 高史, “最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法,” 電子情報通信学会技術研究報告, vol. 113, no. 430, DC2013-85, pp. 37-42, 2014年2月.
