DAシンポジウム2013

2013年8月21〜22日に下呂で開催されたDAシンポジウム2013においてD1の粟野が集積回路の長期信頼性に関する発表を行いました(発表日は8月21日).

集積回路の微細化に伴い,負バイアス温度不安定性(NBTI)と呼ばれる特性劣化(動作速度の低下)が懸念されはじめています.集積回路はミッションクリティカルなシステムにも広く活用されているため,回路の信頼性を保証することは重要な課題の1つとなっています.本発表では,65nmプロセスで試作したトランジスタにおけるNBTI劣化現象の測定結果と数百個のトランジスタで得られた劣化の統計的な振る舞いについて報告しました.この成果を元に劣化予測モデルを作ることで,故障が顕在化する前に劣化した回路を交換する等の対策を取ることが出来るようになると期待されます.

  • 粟野 皓光, 佐藤 高史:
    “トランジスタアレイを用いたBTI劣化の統計的観測”, 情報処理学会DAシンポジウム2013 (於 岐阜県下呂市 ホテル下呂温泉水明館), pp.85-90, 2013年8月.
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