2012年11月8日に，アメリカ合衆国・カリフォルニア州サンノゼで開催されたVMC2012 (IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization 2012)において，研究成果を発表(ポスター発表)しました．また、近くにあるComputer history museumで、計算機の歴史についても学んできました。
- Michihiro Shintani and Takashi Sato, “Adaptive Current-Threshold Determination for Accurate IDDQ Testing,” IEEE/ACM Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC2012), November 2012.
