Monthly Archives: 七月 2013

(日本語) 電子情報通信学会 集積回路研究会(ICD)

2013年7月4日~5日, 在函館举办的电子情报通信学会 集成电路研究会(ICD)上, 本研究室的M2 藤田君作了研究发表(7月5日). 藤田君本次发表是关于为了实现超低功耗电路的设计而进行的低电压仿真中电路误动作的原因分析。在实际应用中,可实现便携设备,传感器网络和蓄电池驱动的设备的低功耗化设计以及增长设备的可操作时间。 在本研究中,通过对电路的输出信号的观测,展示了电路中低电压运行时的错误原因的分析,并对每一个问题的对策进行简单化处理。 藤田隆史, 川島潤也, 廣本正之, 筒井 弘, 越智裕之, 佐藤高史, “低電源電圧におけるフリップフロップの故障モードの解析,” 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.113, No.112, pp.129-134, 2013年7月.

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ITC-CSCC 2013

2013年7月1日~3日,在韩国丽水举办的ITC-CSCC 2013上,本研究室的今川君和張君做了各自的研究发表。 今川君的发表的是关于存储器中数据读取操作的低功耗电路设计的内容。为了实现低功耗传感器网络或者文化财产等的宝贵数据的长期存储,长时间甚至能够长久存储的设备的开发成为了一个重要课题。 张君的发表是关于提出电路中延迟时间的高精度计算的内容。本研究是为了实现便携设备等要求能够在低电压下长时间工作的特性而进行的。因此本研究的实际应用也被寄予了期待。 Shinya Matsuda, Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Takashi Sato, Yukihiro Nakamura, and Hiroyuki Ochi, “Architecture for Sealed Wafer-Scale Mask ROM for Long-Term Digital Data Preservation,” The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) (Yeous, … Continue reading

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