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ACM/IEEE ASPDAC 2013

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本研究室博士生新谷先生与佐藤教授于ASPDAC2013做了研究发表。 新谷先生的研究成果大大提高了隐含在VLSI设计中存在的技术故障的检出精度。宫川先生 (2012年3月毕业生) 的研究成果则是实现了通过随机游走 (Random Walk) 技术对VLSI的电源设计品质进行高速验证。特别是对于频域分析领域的研究,本研究成果则是确立了世界领先的地位。以上的研究成果与技术,对我们日常使用的电子产品的安全性和信赖性的提高做出了巨大的贡献!

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