Author Archives: admin

(日本語) DATE2015採択決定

对不起,此内容只适用于日本語。

Posted in Conference/Workshop | Tagged | Comments Off on (日本語) DATE2015採択決定

(日本語) 秋季研究室歓迎会2014

对不起,此内容只适用于English和日本語。

Posted in Event | Comments Off on (日本語) 秋季研究室歓迎会2014

(日本語) ESSDERC2014

对不起,此内容只适用于日本語。

Posted in Conference/Workshop | Comments Off on (日本語) ESSDERC2014

(日本語) 平成26年度大学院学位授与式

对不起,此内容只适用于English和日本語。

Posted in Event | Comments Off on (日本語) 平成26年度大学院学位授与式

(日本語) 2014年度研究室旅行

对不起,此内容只适用于English和日本語。

Posted in Event | Comments Off on (日本語) 2014年度研究室旅行

(日本語) IEEE 論文誌 (IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)への論文掲載

对不起,此内容只适用于English和日本語。

Posted in Publication | Tagged , | Comments Off on (日本語) IEEE 論文誌 (IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)への論文掲載

(日本語) Yiyu Shi先生,Andy,Yu-Guang Chenさん歓迎会

对不起,此内容只适用于日本語。

Posted in Event | Comments Off on (日本語) Yiyu Shi先生,Andy,Yu-Guang Chenさん歓迎会

(日本語) ESSDERC2014 採択決定

对不起,此内容只适用于日本語。

Posted in Conference/Workshop | Comments Off on (日本語) ESSDERC2014 採択決定

(日本語) IEEE Transactions on Device and Materials Reliabilityへの論文採録決定

对不起,此内容只适用于日本語。

Posted in Publication | Tagged , | Comments Off on (日本語) IEEE Transactions on Device and Materials Reliabilityへの論文採録決定

SASIMI 2013

2013年10月21日~22日,SASIMI 2013 在札幌举办,本研究室的今川做了海报发表(发表日为10月21日). 今川的发表是关于,在利用时间多重化的粗粒度可再构成体系结构(CGRA)中的应用程序回路的布局和布线. 在回路面积被限制的情况下,时间多重化是比空間多重化效率更高的电路平均寿命改善方法. 在本研究中,特别考虑了通过把它应用到 CGRA 可同时提高软错误和硬错误的容错. 但是,通过这个方法达成的硬错误容错和电路性能间有权衡关系,本发表证明了通过应用程序回路的布局和布线可以控制此权衡关系. 通过此研究,可以预期医疗、车载、基础设施等领域的LSI系统的高效率的信赖性改善.  “SASIMI 2013 Outstanding Paper Award” Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato: “Place-and-Route Algorithms for a Reliability-Oriented Coarse-Grained Reconfigurable Architecture using Time Redundancy,” The 18th Workshop on Synthesis And System Integration … Continue reading

Posted in Award, Conference/Workshop | Tagged , | Comments Off on SASIMI 2013